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Dektak XT台阶仪
纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。台阶仪Dektak XT能实现:· 使用温度条件:10-30℃;湿度:≤80
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Bruker布鲁克台阶仪Dektak XT
布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰,更加巩固了其行业地位
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Dektak XT台阶仪
台阶仪Dektak XT能实现:无可匹敌的性能,台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40
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bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站
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微波消解XT-9916新拓 XT系列 仪
点击查看下载微波消解XT-9916新拓 XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS
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新拓微波消解XT-MUI XT系列 仪
点击查看下载新拓微波消解XT-MUI XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS
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新拓XT-T6微波消解 XT系列 仪
点击查看下载新拓XT-T6微波消解 XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 ■ 温度监控方式:特定可穿透罐体的中红外非接触式温度传感器,实时扫描和监控所有样品溶液的真实温度,并显示温度变化曲线
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P-17 台阶仪
需图像拼接。产品描述P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。该系统结合了
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P-7 台阶仪
需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力
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P-170 台阶仪
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